IEC61967-4規(guī)定了兩種測(cè)試方法：1Ω測(cè)試法和150Ω測(cè)試法。
1Ω/150Ω直接耦合法 傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試
主要標(biāo)準(zhǔn)：
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 61967- 4: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method
測(cè)試介紹：
IEC61967-4規(guī)定了兩種測(cè)試方法：1Ω測(cè)試法和150Ω測(cè)試法。1Ω測(cè)試法用來測(cè)試接地引腳上的總騷擾電流，150Ω測(cè)試法用來測(cè)試輸出端口的騷擾電壓。離開芯片的射頻電流匯到集成電路的接地引腳，因此對(duì)地回路射頻電流的測(cè)量可較 好地反映集成電路的電磁騷擾大小。
為實(shí)現(xiàn)150Ω共模阻抗與50Ω的測(cè)試系統(tǒng)阻抗的匹配，必須采用阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)。
測(cè)試配置布置圖：
主要測(cè)試設(shè)備：接收機(jī)、高頻探頭等
測(cè)試環(huán)境：屏蔽室
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