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1Ω/150Ω直接耦合法
發布時間: 2020-06-28 20:32
IEC61967-4規定了兩種測試方法：1Ω測試法和150Ω測試法。
1Ω/150Ω直接耦合法 傳導發射測試
主要標準：
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 61967- 4: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method
測試介紹：
IEC61967-4規定了兩種測試方法：1Ω測試法和150Ω測試法。1Ω測試法用來測試接地引腳上的總騷擾電流，150Ω測試法用來測試輸出端口的騷擾電壓。離開芯片的射頻電流匯到集成電路的接地引腳，因此對地回路射頻電流的測量可較 好地反映集成電路的電磁騷擾大小。
為實現150Ω共模阻抗與50Ω的測試系統阻抗的匹配，必須采用阻抗匹配網絡。
測試配置布置圖：
主要測試設備：接收機、高頻探頭等
測試環境：屏蔽室
產品中心
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