表面掃描法是評估集成電路表面近電場和近磁場元件的一種方法。
表面掃描法 輻射發射測試
主要標準 :
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 61967- 3: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated missions - Surface scan method
測試介紹 :
表面掃描法是評估集成電路表面近電場和近磁場元件的一種方法。
這一測量方法可以應用在任何一個集成在印刷電路板上、方便于使用探針測量的集成電路上。通過對集成電路表面進行電場和磁場掃描,能夠得到關于電磁輻射源相對強度的相關信息 。運用該方法可以準確地定位芯片上集成電路封裝內電 磁輻射量過大的區域。