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射頻功率直接注入法
發布時間: 2020-06-28 21:30
主要標準：
◆IEC 62132-1:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 62132-4:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method
測試介紹：
IEC62132-4規定了采用直接射頻功率注入(DPI)法測量IC的抗干擾性能，射頻信號直接注入在芯片單只引腳或一組引 腳上，耦合電容同時起到了隔直的作用，避免了直流電壓直接加在功放的輸出端。
測試配置布置圖:
主要測試設備：傳導抗擾度測試系統、功率注入探頭等.
測試環境：屏蔽室
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