主要標(biāo)準(zhǔn)：
◆IEC 62132-1:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 62132-4:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method
測(cè)試介紹：
IEC62132-4規(guī)定了采用直接射頻功率注入(DPI)法測(cè)量IC的抗干擾性能，射頻信號(hào)直接注入在芯片單只引腳或一組引 腳上，耦合電容同時(shí)起到了隔直的作用，避免了直流電壓直接加在功放的輸出端。
測(cè)試配置布置圖:
主要測(cè)試設(shè)備：傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)、功率注入探頭等.
測(cè)試環(huán)境：屏蔽室
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