IC帶狀線法可用于測(cè)量150 kHz至3 GHz范圍內(nèi)IC集成電路的電磁輻射發(fā)射。
主要標(biāo)準(zhǔn)：
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 61967-8:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
測(cè)試介紹：
IC帶狀線法可用于測(cè)量150 kHz至3 GHz范圍內(nèi)IC集成電路的電磁輻射發(fā)射。測(cè)量時(shí)被測(cè)IC應(yīng)被安裝在有源導(dǎo)體和IC帶 狀線布置的接地平面之間的EMC測(cè)試板（PCB）上。
測(cè)試配置布置圖
主要測(cè)試設(shè)備：帶狀線等
測(cè)試環(huán)境：屏蔽室
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