主要標(biāo)準(zhǔn)：
◆IEC 62132-1:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 62132-4:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method
測(cè)試介紹：
IEC62132-4規(guī)定了采用直接射頻功率注入(DPI)法測(cè)量IC的抗干擾性能，射頻信號(hào)直接注入在芯片單只引腳或一組引 腳上，耦合電容同時(shí)起到了隔直的作用，避免了直流電壓直接加在功放的輸出端。
測(cè)試配置布置圖:
主要測(cè)試設(shè)備：傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)、功率注入探頭等.
測(cè)試環(huán)境：屏蔽室
版權(quán)：重慶諾益科技有限公司 主營：電波暗室建設(shè)、EMC電磁兼容&RF射頻無線通訊實(shí)驗(yàn)室建設(shè)一站式整體解決方案（涵蓋信息技術(shù)、汽車新地址：重慶市沙坪壩區(qū)下中渡口130號(hào)7號(hào)樓1F 能源、軍工、RF射頻&無線通訊，5G天線微波、IC集成電路等等），并為客戶提供完善的電波暗室設(shè)計(jì)建熱線：13368358070 設(shè)、EMC&RF射頻無線通訊系統(tǒng)集成、CNAS認(rèn)可咨詢、EMC研發(fā)設(shè)計(jì)及售后服務(wù)。
服務(wù)熱線
13368358070
工作日：8：30-17：30