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IC 帶狀線法
發布時間: 2020-06-28 21:17
IC帶狀線法可用于測量150 kHz至3 GHz范圍內IC集成電路的電磁輻射發射。
主要標準：
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 61967-8:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
測試介紹：
IC帶狀線法可用于測量150 kHz至3 GHz范圍內IC集成電路的電磁輻射發射。測量時被測IC應被安裝在有源導體和IC帶 狀線布置的接地平面之間的EMC測試板（PCB）上。
測試配置布置圖
主要測試設備：帶狀線等
測試環境：屏蔽室
產品中心
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