磁場探頭法使用微型三片式結(jié)構(gòu)磁探針測量被測集成電路的電源引腳和I/O引腳上的射頻電流。
主要標(biāo)準(zhǔn)：
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 61967-6: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
測試介紹：
磁場探頭法使用微型三片式結(jié)構(gòu)磁探針測量被測集成電路的電源引腳和I/O引腳上的射頻電流。該探頭以受控方式測量 標(biāo)準(zhǔn)化測試板上電源或I/O帶導(dǎo)體上方指定高度處的磁場。使用相應(yīng)公式，可根據(jù)測量磁場計算射頻電流。由于磁場探頭放 置位置的準(zhǔn)確，此方法有高度的重復(fù)性。此外，該方法的頻率范圍可進(jìn)行擴(kuò)展，在不影響精度的情況下，可以獲得更高的 頻率。測算電源或I/O帶導(dǎo)體上的射頻電流是表征和比較集成電路的一種簡便方法。
主要測試設(shè)備：接收機(jī)、磁場探頭等
測試環(huán)境：屏蔽室
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