與受試器件(DUT)運行不同步的騷擾通過耦合網絡施加給IC引腳。
主要標準:
◆IEC 62215-3: Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
測試介紹:
與受試器件(DUT)運行不同步的騷擾通過耦合網絡施加給IC引腳。不管瞬態是否在IC規定的運行電壓范圍之內,本 方法都能夠得到傳導瞬態騷擾和其引起的IC性能降低之間的相互關系并對其進行分類。
測試配置布置圖:
主要測試設備:非同步瞬態脈沖發生器、脈沖發射單元等
測試環境:屏蔽室