磁場探頭法使用微型三片式結構磁探針測量被測集成電路的電源引腳和I/O引腳上的射頻電流。
主要標準：
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 61967-6: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
測試介紹：
磁場探頭法使用微型三片式結構磁探針測量被測集成電路的電源引腳和I/O引腳上的射頻電流。該探頭以受控方式測量 標準化測試板上電源或I/O帶導體上方指定高度處的磁場。使用相應公式，可根據測量磁場計算射頻電流。由于磁場探頭放 置位置的準確，此方法有高度的重復性。此外，該方法的頻率范圍可進行擴展，在不影響精度的情況下，可以獲得更高的 頻率。測算電源或I/O帶導體上的射頻電流是表征和比較集成電路的一種簡便方法。
主要測試設備：接收機、磁場探頭等
測試環(huán)境：屏蔽室
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