與受試器件（DUT）運行不同步的騷擾通過耦合網絡施加給IC引腳。
主要標準:
◆IEC 62215-3: Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
測試介紹:
與受試器件（DUT）運行不同步的騷擾通過耦合網絡施加給IC引腳。不管瞬態(tài)是否在IC規(guī)定的運行電壓范圍之內，本 方法都能夠得到傳導瞬態(tài)騷擾和其引起的IC性能降低之間的相互關系并對其進行分類。
測試配置布置圖:
主要測試設備：非同步瞬態(tài)脈沖發(fā)生器、脈沖發(fā)射單元等
測試環(huán)境：屏蔽室
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