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傳導抗擾度測試系統（CS）
發布時間: 2017-10-12 09:19
對于低頻（150kHz～80MHz/230MHz）的射頻信號的波長較長，EUT的互連電纜比EUT本身更加容易成為天線而接收電磁場，因此射頻抗擾度試驗的低頻部分采用傳導測量方式。通過向被試設備的電纜注入共模電流，可以模擬Ｅ場和H場對被試設備的影響。
傳導抗擾度測試系統（CS）
主要標準：IEC 61000-4-6/GB T17626.6：RF induction conducted disturbances immunity testest
應用特點：
對于低頻（150kHz～80MHz/230MHz）的射頻信號的波長較長，EUT的互連電纜比EUT本身更加容易成為天線而接收電磁場，因此射頻抗擾度試驗的低頻部分采用傳導測量方式。通過向被試設備的電纜注入共模電流，可以模擬Ｅ場和H場對被試設備的影響。針對被試設備不同類型的端口，可選擇4種注入方式：
CDN直接注入：適用于電源線（M型CDN）及常用電纜
電磁鉗注入：如果無法適用CDN，可以使用電磁鉗。
電流鉗注入：無法適用CDN，而且被測電纜的長度過短時，就需要使用電流鉗。
直接注入法：通過100歐姆電阻直徑注入到同軸電纜的屏蔽層上。
測試配置布置圖：
主要測試設備：信號源、功率放大器、定向耦合器、功率計、CDN網絡、EMC測試軟件等
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