與受試器件（DUT）運(yùn)行不同步的騷擾通過(guò)耦合網(wǎng)絡(luò)施加給IC引腳。
主要標(biāo)準(zhǔn):
◆IEC 62215-3: Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
測(cè)試介紹:
與受試器件（DUT）運(yùn)行不同步的騷擾通過(guò)耦合網(wǎng)絡(luò)施加給IC引腳。不管瞬態(tài)是否在IC規(guī)定的運(yùn)行電壓范圍之內(nèi)，本 方法都能夠得到傳導(dǎo)瞬態(tài)騷擾和其引起的IC性能降低之間的相互關(guān)系并對(duì)其進(jìn)行分類(lèi)。
測(cè)試配置布置圖:
主要測(cè)試設(shè)備：非同步瞬態(tài)脈沖發(fā)生器、脈沖發(fā)射單元等
測(cè)試環(huán)境：屏蔽室
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